FIB-SEMシステムの世界市場調査レポート2023
FIB-SEMシステム 市場概要
FIB-SEMシステムは、集束電子ビームと走査イオンビームを統合した電子顕微鏡システムである。集束イオンビームは試料の微細加工に、走査電子ビームは試料の表面形状のマイクロイメージングや「二次元」特性解析に、FIB加工プロセスのリアルタイム観察に利用できます。したがって、FIB-SEM システムは、定点エッチング、蒸着、断面切断、TEM 電子顕微鏡による試料作製、試料のマイクロ/ナノデバイス作製 回路修復、3D 構造特性評価などを実現できます。
図. FIB-SEMシステム製品写真

QYResearchの調査に基づいているか、含まれて[……]
